電子設(shè)備高低溫測試設(shè)備主要用于檢測材料在各種環(huán)境下性能反應的設(shè)備及試驗各種材料耐熱、耐寒、耐濕、耐干、等性能反應。適合電子、電工、電器、手機、通訊、儀表、車輛配件、塑膠制品、金屬、光電、化學、建材、醫(yī)療、航天等行業(yè)產(chǎn)品及半成品檢測質(zhì)量之用。

電子設(shè)備高低溫測試設(shè)備技術(shù)參數(shù):

1.標準型號和尺寸（也可按客戶要求生產(chǎn)）（單位:mm）：

           型號 LQ-GD-80  內(nèi)箱尺寸:W×H×D 400×500×400   

           型號 LQ-GD-150 內(nèi)箱尺寸:W×H×D 500×600×500    

           型號 LQ-GD-225 內(nèi)箱尺寸:W×H×D 500×750×600   

           型號 LQ-GD-408 內(nèi)箱尺寸:W×H×D 600×850×800    

           型號 LQ-GD-800 內(nèi)箱尺寸:W×H×D 1000×1000×800  

           型號 LQ-GD-1000內(nèi)箱尺寸:W×H×D 1000×1000×1000 

2.溫度范圍：0℃/-20℃/-40℃/70℃～+150℃（風冷式）；

3.溫度精度：0.01℃；

4.-溫度波動度：±0.1℃；

5.溫度均勻度：±1℃；

6.升溫時間：平均約3℃/min，（非線性控制、空載）可做快速(QUICK)或斜率(SLOP)控制；

7.降溫時間：平均約1℃/min，（非線性控制、空載）可做快速(QUICK)或斜率(SLOP)控制；

8.噪音：≤75db；

性能指標符合

電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗A：低溫試驗方法GB 2423.1-89 (IEC68-2-1)

電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗B：高溫試驗方法GB 2423.2-89 (IEC68-2-2)